Keysight B2985A 和 B2987A 靜電計(jì)/高阻表電阻率測(cè)試指南
在材料科學(xué)和電子工程領(lǐng)域,精確測(cè)量材料的電阻率對(duì)于評(píng)估材料性能、確保產(chǎn)品質(zhì)量以及推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新至關(guān)重要。Keysight B2985A 和 B2987A 靜電計(jì)/高阻表憑借其卓越的性能和豐富的功能,成為電阻率測(cè)試的理想工具。本文將詳細(xì)介紹如何使用這兩款儀器與 16008B 電阻盒搭配,進(jìn)行體積電阻率和表面電阻率測(cè)試,并提供具體實(shí)例和操作步驟。
電阻率測(cè)試的實(shí)例
圖顯示了 B2987A 和 16008B 進(jìn)行電阻率測(cè)試的連接后視圖。
請(qǐng)確保儀表已經(jīng)通過(guò)互鎖電纜連接,將 N1413A 的控制開(kāi)關(guān)切換到 PULL 位置;并且啟用 "Floating DUT" 模式。
在本例中,夾具的測(cè)試電極是 16008B 電阻盒的標(biāo)準(zhǔn)配置。電極尺寸為:
 ̄ 主電極: 直徑 50 mm
 ̄ 防護(hù)電極: (內(nèi)) 直徑 70 mm
體積電阻率測(cè)試實(shí)例所使用的測(cè)試樣品是一種與靜電隔離袋材質(zhì)相同的塑料薄膜,適用于放置靜電敏感器件。
表面電阻率測(cè)試實(shí)例所使用的測(cè)試樣品是橡膠薄片。
電阻率計(jì)算的詳細(xì)內(nèi)容可參見(jiàn)圖。
下面示例描述了如何設(shè)置和執(zhí)行體積電阻率/表面電阻率測(cè)試。
實(shí)例 1. 體積電阻率測(cè)試
下步驟演示了如何設(shè)置和執(zhí)行體積電阻率測(cè)試。
B2985A 靜電計(jì)/高阻表 前面板操作及測(cè)量步驟
1. 在 16008B 電阻盒中放入測(cè)試樣品。
注: 本例使用了與靜電隔離袋材質(zhì)相同的塑料薄膜。
將 16008B 體積/表面選擇器的開(kāi)關(guān)切換到 "體積 (Volume)" 位置。
2. 按下 [視圖 (View)] 鍵,以顯示功能鍵 View 的菜單。接下來(lái)按下[儀表視圖 (Meter View)] 功能鍵,并按下 [AMPS (I)] 輔助鍵。
3. (1) 檢查電壓源 (Voltage Source) 字段是否設(shè)置為 0 V。
(2) 如果不是,將字段指針移動(dòng)到電壓源值,再按下 [旋鈕 (knob)] 進(jìn)行電壓編輯。
(3) 字段指針變?yōu)榫G色編輯 (EDIT) 狀態(tài)。
(4) 設(shè)置電壓為 0 V。用箭頭鍵選擇想要編輯的數(shù)字。
4. 設(shè)置運(yùn)算 (MATH) 參數(shù),以進(jìn)行體積電阻率和表面電阻率計(jì)算:
步驟 1. 按下 [視圖 (View)] 鍵, 以顯示 [系統(tǒng)菜單 (System Menu)] 功能鍵。
步驟 2. 按下 [系統(tǒng)菜單 (System Menu)] 鍵, 再按下 [功能 (Function)] 鍵。
步驟 3. 按下 [運(yùn)算 (Math)] 鍵。
步驟 4. 按下 [變量 (Variable)] 鍵。
5. 運(yùn)算變量輸入面板已打開(kāi)。
將索引 (Index) 設(shè)置為 "01" (參見(jiàn)下圖中的步驟 "a")。
執(zhí)行下圖中的步驟 "b" 至 "i",將索引 7 中的變量設(shè)為 188.5 (mm),參見(jiàn)步驟 h。
6. 在對(duì)索引 08 到 10 的變量完成上述步驟之后,所有的參數(shù)應(yīng)當(dāng)按照下圖進(jìn)行設(shè)置。
按下 [應(yīng)用 (Apply)],再按下 [OK] 鍵,可以保存數(shù)值和關(guān)閉運(yùn)算變量 (Math Variable) 輸入面板。
所有的電阻率運(yùn)算參數(shù)都已設(shè)置好。
按下 [應(yīng)用 (Apply)], 再按下 [OK] 鍵, 可以設(shè)置和關(guān)閉運(yùn)算變量
(Math Variable) 輸入面板。
7. 設(shè)置測(cè)量所用到的測(cè)試電壓。
(1) 按下 [儀表視圖 (Meter View)] 功能鍵。
(2) 連續(xù)兩次按下 [More...1 of 3] 輔助鍵,以顯示 [More...3 of 3] 功能鍵。
(3) 按下 [顯示電壓源功能 (Show VS Func.)] 輔助鍵,以顯示 VS 功能菜單。
8. 將 VS 功能改為編輯 (EDIT) 模式,并選擇[線性單掃描 (LINEAR SINGLE)] 輔助鍵。
9. 通過(guò)下圖中的步驟可以完成掃描參數(shù)的設(shè)置。
(1) 電源 (Source) 形狀指示器應(yīng)當(dāng)改為指示線性單掃描。
(2) 按照下列數(shù)值編輯掃描參數(shù)。
 ̄ 開(kāi)始 (Start): 500 V
 ̄ 停止 (Stop): 500 V
 ̄ 點(diǎn)數(shù) (Points): 1
(3) 按下 [隱藏電壓源功能 (Hide VS Func.)] 輔助鍵。
VS 范圍設(shè)置模式已打開(kāi)。
(4) 將字段指針移動(dòng)到 "Spot Source Range",然后按下 [旋鈕 (Knob)] 可將字段更改為編輯 (EDIT) 模式。
(5) 按下 [+1000 V] 輔助鍵,將 VS 范圍設(shè)置為 1000 V。
10. (1) VS 范圍指示出電壓被設(shè)定在 1000 V。
(2) 連續(xù)兩次按下 [More..3 of 3] 輔助鍵,直至它處于 [More...2 of 3]。
(3) 按下[顯示觸發(fā) (Show Trigger)] 輔助鍵。
(4) 點(diǎn)擊觸發(fā) (Trigger) 模式,并更改為編輯 (EDIT) 模式。輔助鍵更改為觸發(fā) (Trigger) 選擇菜單。
(5) 按下 [手動(dòng) (MANUAL)] 輔助鍵。
(6) 觸發(fā) (Trigger) 模式更改為手動(dòng) (MANUAL) 模式。
11. 手動(dòng)觸發(fā) (Manual Trigger) 參數(shù)的輸入字段已打開(kāi)。
在本例中,將觸發(fā)設(shè)為 5 秒間隔,最終采樣設(shè)在 60 秒。
(1) 按照下列數(shù)據(jù)更改手動(dòng)觸發(fā) (Manual) 參數(shù):
測(cè)量計(jì)數(shù): 13
測(cè)量時(shí)延: 500 ms (設(shè)置在偏置電壓輸出后有 500 ms 時(shí)延。)測(cè)量時(shí)間: 5 秒 (每隔 5 秒執(zhí)行采樣。)
源計(jì)數(shù): 1 (開(kāi)始 - 停止)
測(cè)量和源觸發(fā): 自動(dòng) (AUTO)
(2) 按下 [隱藏觸發(fā) (Hide Trigger)] 輔助鍵。
(3) 按下 [顯示滾降 (Show Roll)] 輔助鍵,為接下來(lái)的測(cè)量做準(zhǔn)備。屏幕的下半部分會(huì)顯示儀表視圖和滾降視圖。
12. 可選設(shè)置
如果您在使用濕度傳感器和/或熱電偶,可將其接到 B2985A/87A 的后面板輸入端,這樣您就能測(cè)量在測(cè)試環(huán)境中的濕度和溫度。注: 由于濕度對(duì)電阻率測(cè)試的影響很明顯,因此如果您在一個(gè)不可控的環(huán)境內(nèi)進(jìn)行電阻率測(cè)試,那么您應(yīng)當(dāng)監(jiān)測(cè)濕度指標(biāo)。
13. 輸出打開(kāi)。
(1) 按下電壓源[通/斷 (On/Off)] 鍵,以輸出 0 V 電壓。
(2) 然后按下電流表[通/斷 (On/Off)] 鍵,以連接這個(gè)電流表。
(3) 自動(dòng)執(zhí)行單次電流測(cè)量。
注: 如果已接到濕度和溫度傳感器,也會(huì)顯示這一數(shù)據(jù)。
14. 按下 [OHMS(R)] 輔助鍵,將測(cè)量參數(shù)更改為電阻。
a. 儀表視圖 (Meter View) 的單位更改為 "Ω"。
b. 下面步驟將設(shè)置運(yùn)算 (MATH) 功能并計(jì)算體積電阻率。執(zhí)行下圖中 b 部分所列出的第 1 至 3 個(gè)步驟。
15. "運(yùn)算 (MATH)" 指示器顯示了 VRESISTIVITY 功能已經(jīng)設(shè)置好。
通過(guò)運(yùn)算功能計(jì)算出來(lái)的數(shù)據(jù)在主要測(cè)量數(shù)據(jù)顯示字段中顯示。電阻數(shù)據(jù)在次要測(cè)量數(shù)據(jù)顯示字段中顯示。
16. 以下操作適用于體積電阻率測(cè)試。
按下 [單次 (Single)] 測(cè)量按鈕。
體積電阻率測(cè)試的時(shí)間是 5 到 60 秒。電阻率的單位 "PO" 表示 Peta-Ohm/cm。注: 體積電阻率的單位是 Ωcm。
17. 運(yùn)算數(shù)據(jù)不能在圖形視圖中顯示。
通過(guò)下列步驟來(lái)繪制體積電阻率與帶電時(shí)間的關(guān)系圖。
實(shí)例 2. 表面電阻率測(cè)試
表面電阻率測(cè)試基本上與體積電阻率測(cè)試相同,但包括以下幾種例外情況。您可以參考實(shí)例 1 中的相同步驟進(jìn)行表面電阻率測(cè)試,但要注意以下幾點(diǎn)不同。
1. 在 16008B 電阻率電池中放入測(cè)試樣品。
注: 本例使用了橡膠薄板作為測(cè)試材料。
將 16008B 體積/表面選擇器的開(kāi)關(guān)切換到 "表面 (Surface)" 位置。
2. 下面步驟將設(shè)置運(yùn)算 (MATH) 功能并計(jì)算表面電阻率測(cè)試。
按照下圖中的第 (1) 至 (4) 步驟操作。
3. 開(kāi)始進(jìn)行表面電阻率測(cè)試。
按下 [單次 (Single)] 測(cè)量按鈕。
表面電阻率測(cè)試的時(shí)間是 5 到 60 秒。
電阻率的單位 "PO" 表示 Peta-Ohm。
點(diǎn)擊 [單次 (Single)]鍵。[ARM] 指示器亮起, 掃描測(cè)量開(kāi)始進(jìn)行。
4. 顯示了圖形視圖 (Graph View) 結(jié)果。
實(shí)例 3. 保存測(cè)試設(shè)置
您可以把測(cè)試配置和測(cè)試設(shè)置保存到內(nèi)存或外部 USB 存儲(chǔ)設(shè)備,無(wú)需重復(fù)輸入?yún)?shù)即可再次進(jìn)行測(cè)量。
下面實(shí)例介紹了如何保存測(cè)試設(shè)置到內(nèi)存。
1. 按下 [保存 (Save)] 鍵。出現(xiàn)一個(gè) "選擇要保存的路徑" 彈出窗口。
2. 按下在儀器底部顯示的功能鍵位置中的任意一個(gè),即可選擇當(dāng)前設(shè)置要保存的內(nèi)存路徑。
稍后通過(guò)按下 [調(diào)用 (Recall)] 鍵并選擇設(shè)置,您能夠調(diào)用這個(gè)設(shè)置。
總結(jié)
Keysight B2985A 和 B2987A 靜電計(jì)/高阻表可與 16008B 電阻盒搭配使用,提供更出色的表面電阻率和體積電阻率材料表征能力。另外,它們還提供直觀的圖形用戶界面和卓越的測(cè)量精度。
B2985A 和 B2987A 靜電計(jì)/高阻表使用 1000 V 測(cè)試電壓源可測(cè)量最高 10 PΩ?(10 16Ω) 電阻。
您可以在施加測(cè)試電壓之后指定任意的測(cè)量時(shí)延,包括 ASTM D257 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的 60 秒。
B2985A 和 B2987A 靜電計(jì)/高阻表 使用內(nèi)置運(yùn)算功能對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算,(根據(jù)測(cè)試夾具和測(cè)試樣品的尺寸) 能夠顯示體積電阻率和表面電阻率。
計(jì)時(shí)器觸發(fā)和趨勢(shì)圖特性可使您十分靈活地表征新興的材料和器件。