FT6110系列可編程多通道電子負(fù)載陣列

FT6110系列可編程多通道電子負(fù)載陣列，是費(fèi)思在FT6100系列多通道電子負(fù)載陣列的積累上開發(fā)的一款主要針對(duì)電源ATE測(cè)試系統(tǒng)使用的高性能、高性價(jià)比的產(chǎn)品。

為了方便電源ATE測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)，F(xiàn)T6110內(nèi)置了電壓電流紋波測(cè)試、動(dòng)態(tài)掃頻、負(fù)載效應(yīng)測(cè)試、LED驅(qū)動(dòng)測(cè)試、OCP測(cè)試、斜率設(shè)置等專項(xiàng)功能，并提供了完善的DLL開發(fā)包。支持支持C#、C++、Delph、Labview開發(fā)語言，方便用戶二次開發(fā)。

動(dòng)態(tài)測(cè)試功能

動(dòng)態(tài)測(cè)試功能可根據(jù)設(shè)定規(guī)則使負(fù)載在兩個(gè)設(shè)定參數(shù)(主值與瞬態(tài)值)間切換，適用于電源動(dòng)態(tài)特性測(cè)試。最高頻率可達(dá)50kHz，支持連續(xù)、脈沖、翻轉(zhuǎn)、上升斜率、下降斜率、量程切換參數(shù)設(shè)置。

自動(dòng)測(cè)試功能

自動(dòng)測(cè)試功能單個(gè)文件可支持100步測(cè)試，每步測(cè)試可以設(shè)置帶載模式、帶載值、檢測(cè)項(xiàng)目、檢測(cè)項(xiàng)上/下限值、運(yùn)行時(shí)間。運(yùn)行時(shí)間可設(shè)置范圍為0.1S～86400S。該功能只需完成產(chǎn)品插拔，負(fù)載將自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試、判斷，測(cè)試完成后以PASS或FAIL形式體現(xiàn)。

序列功能

序列功能允許用戶編輯10個(gè)序列測(cè)試文件，文件可鏈接，可重復(fù)運(yùn)行。每個(gè)測(cè)試文件支持20個(gè)測(cè)試步驟。每個(gè)測(cè)試步驟中，用戶可設(shè)置帶載模式、帶載主值、單步時(shí)間。單步時(shí)間可設(shè)置范圍為0.001S~86400S。

動(dòng)態(tài)掃頻功能

動(dòng)態(tài)掃頻功能可手動(dòng)或自動(dòng)連續(xù)調(diào)節(jié)帶載頻率，最高頻率可達(dá)50kHz。該測(cè)試功能可捕獲到電源類待測(cè)物在最惡劣情況下的最大(Vp+)、最小(Vp-)電壓峰值。

負(fù)載效應(yīng)測(cè)試功能

電源類產(chǎn)品在輸出載荷變化時(shí)會(huì)引起輸出穩(wěn)定量的變化稱之為負(fù)載效應(yīng).負(fù)載效應(yīng)測(cè)試功能為用戶提供多組帶載參數(shù)，穩(wěn)定時(shí)間設(shè)置。測(cè)試完成后直接提供負(fù)載調(diào)整率、電壓變化率以及電源直流內(nèi)阻結(jié)果。

紋波測(cè)試功能

負(fù)載支持電壓紋波Vpp、電流紋波(Ipp)測(cè)量，帶寬10Hz～250kHz。在測(cè)量帶寬范圍內(nèi)，紋波測(cè)量精度高，重復(fù)性好。紋波一般而言包括工頻紋波和開關(guān)紋波兩個(gè)不同頻率段，負(fù)載紋波測(cè)量結(jié)果為兩種紋波疊加的綜合結(jié)果。

應(yīng)用案例

用戶可通過LAN或RS485接口進(jìn)行多機(jī)集成，通過FT6110系統(tǒng)軟件可對(duì)負(fù)載系統(tǒng)進(jìn)行所有功能操作、波形顯示及數(shù)據(jù)保存等功能。該軟件系統(tǒng)操作簡(jiǎn)便，功能強(qiáng)大，使用者可輕易上手。

同時(shí)設(shè)備支持標(biāo)準(zhǔn)MODBUS協(xié)議并提供詳細(xì)《編程手冊(cè)》和DLL開發(fā)包，支持C#、C++、Delph、Labview開發(fā)語言，方便用戶二次開發(fā)。