普源RSA3045N頻譜分析儀如何測試雜波抑制

普源RSA3045N頻譜分析儀測試雜波抑制的步驟

一、準備工作

1. 準備好頻譜分析儀RSA3045N和待測設備（如放大器、濾波器等）。

2. 連接好頻譜分析儀和待測設備，確保信號路徑正確無誤。

3. 根據待測設備的工作頻段，設置好頻譜分析儀的中心頻率和頻寬。

4. 選擇合適的分辨率帶寬(RBW)和視頻帶寬(VBW)，以獲得所需的測量精度。

二、測試步驟

1. 開啟頻譜分析儀，讓其進入正常工作狀態。

2. 在空載條件下，觀察頻譜分析儀的噪聲底線。這就是系統本身的噪聲水平。

3. 打開待測設備，觀察頻譜圖上出現的各種諧波和雜散分量。這些都是待測設備產生的雜波成分。

4. 將待測設備的輸入端接地，觀察頻譜圖上只有系統噪聲底線，沒有其他雜波成分出現。這就是待測設備本身的雜波抑制性能。

5. 切換到不同的頻段，重復步驟2-4，全面評估待測設備的雜波抑制特性。

三、數據分析

1. 通過比較步驟2和步驟4的頻譜圖，可以計算出待測設備的雜波抑制比(Spurious Rejection Ratio， SRR)。

   SRR = 待測設備雜波功率 - 系統噪聲功率

2. SRR越高，表示待測設備的雜波抑制性能越好。

3. 將測試結果與廠商提供的技術指標對比，判斷待測設備的雜波抑制性能是否符合要求。

四、測試結果展示

1. 可以用屏幕截圖保存測試過程中的關鍵頻譜圖。

2. 整理出待測設備在不同頻段的SRR測試數據，形成完整的測試報告。

3. 測試報告可以包括：測試環境、測試設備、測試步驟、測試數據、結論等內容。

通過以上步驟，可以全面評估普源RSA3045N頻譜分析儀在測試雜波抑制方面的性能。該儀器憑借出色的動態范圍和低噪聲特性，能夠準確測量各種電子設備的雜散抑制指標，為產品研發及生產質量控制提供可靠的測試支持。