是德N5242B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀如何測(cè)試S參數(shù)？

1. 簡(jiǎn)介

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)是一種常用的電子測(cè)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于通信、雷達(dá)、衛(wèi)星等領(lǐng)域，用于測(cè)量電路或微波部件的S參數(shù)(散射參數(shù))。N5242B是安捷倫(Keysight)公司推出的一款雙端口4GHz頻段的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路的S參數(shù)。下面介紹如何使用N5242B測(cè)試S參數(shù)。

2. 測(cè)試系統(tǒng)搭建

使用N5242B測(cè)試S參數(shù)需要搭建如下測(cè)試系統(tǒng):

- N5242B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

- 校準(zhǔn)套件，如85052D 3.5mm標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)套件

- 測(cè)試夾具或測(cè)試探針

- 被測(cè)器件

首先將N5242B的端口1和端口2分別連接到被測(cè)器件的輸入和輸出端。為確保測(cè)試精度，需要對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)，包括通路校準(zhǔn)和反射校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試。

3. S參數(shù)測(cè)試步驟

（1）設(shè)置測(cè)試頻段

在N5242B上設(shè)置測(cè)試頻段，一般根據(jù)被測(cè)器件的工作頻段選擇合適的頻段。例如對(duì)于4GHz頻段的器件，可設(shè)置1MHz到4GHz的測(cè)試頻段。

（2）選擇S參數(shù)顯示模式

N5242B支持多種S參數(shù)顯示模式，如幅度/相位、實(shí)部/虛部、dB/度等。根據(jù)測(cè)試需求選擇合適的顯示模式。

（3）測(cè)試S參數(shù)

開(kāi)始測(cè)試時(shí)，N5242B會(huì)自動(dòng)在選定的頻段內(nèi)掃描并測(cè)量4個(gè)S參數(shù):S11、S12、S21、S22。測(cè)試過(guò)程中，可實(shí)時(shí)觀察S參數(shù)的幅度和相位變化。

（4）保存測(cè)試數(shù)據(jù)

測(cè)試完成后，可將測(cè)試數(shù)據(jù)保存到內(nèi)部存儲(chǔ)器或?qū)С龅酵獠看鎯?chǔ)設(shè)備，如U盤(pán)，以便后續(xù)分析。

4. 測(cè)試結(jié)果分析

通過(guò)測(cè)試獲得的S參數(shù)數(shù)據(jù)，可以分析被測(cè)器件的性能指標(biāo)，如:

- 輸入反射系數(shù)S11:反映輸入端的阻抗匹配情況

- 傳輸系數(shù)S21:反映信號(hào)從輸入端到輸出端的傳輸特性

- 隔離度S12:反映信號(hào)從輸出端到輸入端的隔離程度

- 輸出反射系數(shù)S22:反映輸出端的阻抗匹配情況

分析這些S參數(shù)可以全面評(píng)估被測(cè)器件的工作狀態(tài)，為電路設(shè)計(jì)、優(yōu)化和調(diào)試提供依據(jù)。

N5242B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀憑借其出色的測(cè)量性能和友好的操作界面，能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量S參數(shù)，為微波電路設(shè)計(jì)與調(diào)試提供有力支持。掌握N5242B的使用方法，對(duì)于提高測(cè)試效率和測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性都有重要意義。