矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與噪聲系數(shù)分析儀在微波半導(dǎo)體芯片中的測試解決方案（下）

　　上篇文章我們講述了系統(tǒng)組成和測試原理的前兩個(gè)步驟，本文安泰測試?yán)^續(xù)為大家介紹剩余部分。

       2.3 系統(tǒng)測試

　　(1)連接測試芯片

　　將噪聲源輸出端口連接到測試線纜，另一根線纜連接噪聲系數(shù)分析儀輸入端口。取下在片校準(zhǔn)片，替換為低噪聲放大器芯片，用直流電源為其供電，同時(shí)對載物臺接地。低噪聲放大器顯微圖片和測試連接示意圖如圖5所示。

　　圖5 低噪聲放大器測試連接

　　(2)測試結(jié)果及分析

　　3986噪聲系數(shù)分析儀提供圖形、表格、測試儀三種顯示格式，可根據(jù)需求選擇對應(yīng)格式。在本次試驗(yàn)中，通過【格式】→[顯示格式]→[圖形]設(shè)置，查看當(dāng)前測試數(shù)據(jù)的曲線圖;通過【格式】→[顯示格式]→[表格]設(shè)置，查看當(dāng)前測試數(shù)據(jù)的表格數(shù)據(jù)。低噪聲放大器芯片噪聲系數(shù)、增益測試曲線和表格數(shù)據(jù)如圖6所示。

　　圖6 低噪聲放大器芯片噪聲系數(shù)、增益測試曲線和表格數(shù)據(jù)

　　已知該低噪聲放大器芯片噪聲系數(shù)典型值為1.05dB，增益為24dB。將測得的數(shù)據(jù)寫入excel制成曲線(右)，與廠家提供的典型曲線(左)對比。噪聲系數(shù)測試曲線對比如圖7所示，增益測試曲線對比如圖8所示。曲線重合度較高。

　　圖7 噪聲系數(shù)測試結(jié)果與典型曲線對比

　　圖8 增益測試結(jié)果與典型曲線對比

　　總結(jié)

　　本次對低噪聲放大器的測試，可應(yīng)用于低噪聲放大器芯片的生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)，為保證測試的準(zhǔn)確性，需要注意以下內(nèi)容：

　　(1)3986噪聲系數(shù)分析儀進(jìn)行噪聲系數(shù)和增益的測試，測試前要先連接噪聲源進(jìn)行主機(jī)校準(zhǔn)，然后輸入損耗補(bǔ)償值。不推薦直接使用噪聲系數(shù)分析儀測試附件插損。

　　(2)3672矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀用作系統(tǒng)校準(zhǔn)，測試探針、線纜整體的S21，計(jì)算損耗補(bǔ)償值。因此在校準(zhǔn)前需要充分預(yù)熱，保證校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可反復(fù)使用。

　　(3) 采用標(biāo)量二分的方法補(bǔ)償系統(tǒng)附件插損，DUT前和DUT后均等于-|S21|/2，因此需要探針和電纜具有較好的對偶一致性。

　　中電科思儀3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

       我們用兩篇文章講述了矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與噪聲系數(shù)分析儀在微博半導(dǎo)體芯片中的測試解決方案，希望對大家有幫助。歡迎關(guān)注安泰測試，了解更多儀器儀表知識。